椭圆偏振光谱法测定磁性薄膜的光色散特性

摘要

本文报导了用变波长的椭偏仪研究磁性薄膜的光色散特性的工作。在波长为3000～6200(?),入射角φ=70.0°的条件下,测量了铁膜、镍膜、坡莫(Fe-Ni)合金膜及磁光石榴石单晶膜的折射率n(λ)、消光系数K(λ)和解电常数ε(λ)的谱线。并对此结果进行了讨论。