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能量色散X射线荧光光谱法测定银基钎料中银铜锌含量的方法

摘要

本发明公开了一种能量色散X射线荧光光谱法测定银基钎料中银铜锌含量的方法,主要包括以下步骤:1)样品处理;2)将若干块银基钎料标准样品分别置于能量色散型X射线荧光光谱仪中进行检测,以银基钎料标准样品中Ag、Cu、Zn元素的质量分数为横坐标,对应的荧光强度为纵坐标,分别做出标准样品的工作曲线;3)按照步骤2)中的仪器配置和检测条件,检测银基钎料样中Ag、Cu、Zn元素的荧光强度,对照工作曲线,计算银基钎料样品中Ag、Cu、Zn元素的质量分数。本发明通过能量色散X射线荧光光谱法测定银基钎料中银铜锌含量,相比现有的检测方法,具有制样简单、操作方便、测试快速、结果准确的特点。

著录项

  • 公开/公告号CN111537536A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010423908.9

  • 发明设计人 杜立新;王春生;林永强;谢智超;

    申请日2020-05-19

  • 分类号G01N23/223(20060101);G01N1/28(20060101);

  • 代理机构11223 北京元中知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人曲艳

  • 地址 266111 山东省青岛市城阳区锦宏东路88号

  • 入库时间 2023-12-17 11:20:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-14

    公开

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