全扫描结构可测性设计方法的研究

摘要

探讨了在 Synopsys软件中用全扫描结构实现数字电路可测性设计中遇到的问题及解决方法 ,如扫描结构的基本结构、测试的时序等问题。扫描结构对电路本身的结构有严格的要求 。