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王培英; 余大年; 刘梅冬; 曾亦可; 饶韫华; 李楚容;
华中理工大学固体电子学系;
铁电薄膜; PZT铁电薄膜; 界面; 电滞回线; 电极;
机译:工艺参数对通过Sol-gel衍生法在不锈钢上实现的铁电和反铁电PZT薄膜的结构和电性能的影响
机译:关于烧焦相对PZT薄膜铁电和介电性能的影响
机译:面内和面外取向错误对Si基薄膜PZT薄膜铁电红外传感器铁电性能的影响
机译:基材对铅基铁电薄膜的结构和电性能的影响。
机译:源/漏电极对氧化硅锡薄膜晶体管电性能的影响
机译:在PZT铁电系统的晶体网络中用La3 +代替Pb2 +(53/47):对结构,微结构和电性能的影响在PZT铁电系统的晶格中用Lab +取代Pb2 +(53/47):对结构,微结构和电性能
机译:顶电极材料对辐射诱导铁电薄膜降解的影响。
机译:用于形成基于PZT的铁电薄膜的组合物,其制造方法以及通过使用用于形成基于PZT的铁电薄膜的组合物来形成基于PZT的铁电薄膜的方法
机译:PZT PZT PZT基铁电薄膜的制备方法相同,PZT基铁电膜的制备方法相同
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