用ATR方法研究液晶表面光学性质

摘要

本文用衰减全反射方法（ＡＴＲ）研究液晶在基片表面上的性质，测试在外电场作用下液晶分子重新定向引起光学性质的变化。液晶薄层的光学常数和厚度用ＡＴＲ曲线拟合计算。