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何潮; 牛新环; 刘江皓; 占妮; 邹毅达; 董常鑫; 李鑫杰;
河北工业大学电子信息工程学院;
天津市电子材料与器件重点实验室;
河北省微电子超精密加工材料与技术协同创新中心;
河北省微电子专用材料与器件工程中心;
化学机械抛光(CMP); 抛光性能; 磨料; 去除速率; 表面质量;
机译:机床:半导体器件过程中CMP技术的磨料技术技术趋势
机译:下一代半导体工艺和材料面临的挑战:使用无磨料磨料的Cu-CMP技术
机译:半导体下一代关键工艺和新材料:CMP/扁平化技术 - 用于玻璃抛光的新型固定磨料板
机译:Si-CMP过程中材料去除量与磨料纳米颗粒尺寸增加关系的研究
机译:CMP过程中的磨料颗粒轨迹和材料去除不均匀性以及CMP浆料的过滤特性-模拟和实验研究。
机译:半导体和光学材料CMP加工中使用多组分胶体磨料的方法
机译:使用多组分胶体磨料对半导体和光学材料进行CMP加工的方法
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