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8085A微处理器的测试

         

摘要

<正> 前言近些年来,对微处理器的功能测试提出了许多方法。然而,具体采用哪些方法和编制怎样的功能测试程序,是与测试场合和测试工具密切相关的。如下表所示,测试场合是指测试部门和测试阶段,而测试工具包括测试设备的软件和硬件。显然,测试场合决定测试要求,测试工具决定测试能力。这些都是决定测试方法的重要因素。本文是针对8085A成品的性能鉴定测试、在缺少测试软件的测试系统上所做的工作。一、测试程序的结构微处理器的鉴定测试(亦称工程评价),是为了鉴定与检验其性能指标是否满足设计要求而进行的测试。该测试不仅包括动态功能测试,而且包括全部直流参数测试、主要交流参数测试、工作界限(即Shmoo(图)测试。总测试流程(未含交流参数测试和工作界限测试两部分,如图1所示。 1.动态功能测试动态功能测试,是在额定负载和规定输

著录项

  • 来源
    《电子测量技术》 |1985年第3期|6-11|共6页
  • 作者

    陈兆龙; 华平和;

  • 作者单位

    清华大学微电子所;

    中国科学院109厂;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
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