微处理器功能测试中可控性和可观察性的测试

摘要

微处理器(μP)功能测试的一个关键问题是可控性和可观察性的测试。本文提出一个复杂性较低的测试算法,它能对μP的可控性和可观察性进行功能测试,同时,能检测地址译码功能的故障。 限于篇幅,省去了繁琐的定理证明,有兴趣的读者可参阅文献[1].