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In a memory emulation test apparatus, a method of and system for fast functional testing of memories in microprocessor-based units

机译:在存储器仿真测试设备中,用于基于微处理器的单元中的存储器的快速功能测试的方法和系统

摘要

A memory emulation test system is provided with a method of and system for fast functional testing of memories, such as boot ROMs, in microprocessor-based assemblies. The emulative test system includes a synchronization circuit which automatically re-arms itself and generates sync pulses on each and every UUT data access cycle to allow the UUT microprocessor to read every boot ROM memory location and collect data to be computed into a checksum or other signature to be compared with a predetermined signature representative of a correctly functioning and faultless boot ROM.
机译:存储器仿真测试系统提供了用于基于微处理器的组件中的存储器(例如,引导ROM)的快速功能测试的方法和系统。乳化测试系统包括一个同步电路,该电路会自动重新武装自己,并在每个UUT数据访问周期上生成同步脉冲,以允许UUT微处理器读取每个引导ROM存储器位置并收集要计算为校验和或其他签名的数据将其与代表正常运行且无故障的引导ROM的预定签名进行比较。

著录项

  • 公开/公告号US5325365A

    专利类型

  • 公开/公告日1994-06-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 JOHN FLUKE MFG. CO. INC.;

    申请/专利号US19910771642

  • 发明设计人 THOMAS P. LOCKE;MATTHEW P. MOORE;

    申请日1991-10-04

  • 分类号G06F11/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 04:31:32

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