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严樟根; 殷志强; 魏志渊; 周邦伟;
清华大学;
机译:多次入射介质椭偏法测定聚合物薄膜的厚度和折射率
机译:椭偏快速法测定Fe / SiO_2 / Si(100)纳米结构生长过程中光学常数的厚度和轮廓
机译:椭偏法测定ZnO / Si界面的SiO_2厚度
机译:椭偏的迭代逆方法测定L-B膜的光学常数和厚度
机译:使用原位椭偏仪在快速热处理中测量和控制硅片温度和氧化膜厚度。
机译:银纳米薄膜表面等离激元的厚度色散:透射法迭代椭偏法测定。
机译:红外光谱椭偏法测定的n型,p型和补偿型InN:Mg的自由载流子参数
机译:Gaas中pmma的椭偏厚度测量。
机译:椭偏测定。多层样品的连续层的材料参数的确定-通过连续去除层,连续椭偏测量以及厚度,折射率和吸收系数的计算。从测试值
机译:用椭偏法测定透明层的折射率和厚度的方法
机译:椭偏分析仪,椭偏分析仪,用于测量样品,测量薄层厚度变化的方法。
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