Ellipsometers; Thickness; Semiconducting films; Gallium arsenides; Measurement; Nondestructive testing; Microscopy; Deposition; Lithography; Reprints; PMMA(Polymethylmethacrylate); Ellipsometry; Electron resist; Interference microscopy;
机译:通过椭偏测量确定弯曲基板上的薄膜厚度
机译:用于薄膜厚度测量的新型广角椭圆仪
机译:椭偏显微镜测量头滑块上分子薄润滑剂膜的厚度分布
机译:2nm SiO_2薄膜的厚度评估,椭偏,电容电压和HRTEM测量的比较
机译:燃料厚度对PMMA对流火焰扩散影响的实验研究。
机译:使用部分嵌入的金纳米颗粒和椭偏测量增强的局部等离子体检测
机译:电泳法在pH 8.7的磷酸盐溶液中通过伏安法生长的氧化锡厚度的椭偏测量
机译:Gaas中pmma的椭偏厚度测量