磁性拓扑绝缘体MnBi2Te4（Bi2Te3）n的扫描开尔文探针显微术研究

摘要

本征磁性拓扑绝缘体MnBi2Te4（Bi2Te3）n由于具有量子反常霍尔效应等新奇物理现象备受关注，该体系材料是由MnBi2Te4（MBT层）和Bi2Te3（BT层）堆叠而成的层状范德华异质结构，因其易于实验剥离，人们对它的研究兴趣由块体材料转向二维薄膜，发现其层厚奇偶性特征与磁性拓扑性质密切相关。目前未有研究表明如何分辨二维极限下材料表面的解理面类型，阻碍了此材料薄膜体系中新奇现象的深入研究。本文利用扫描开尔文探针显微术（SKPM），研究了MnBi2Te4（Bi2Te3）n体系解理面的表面电学性质，利用其表面电学性质分辨解理面类型，并进一步探究解理面在大气环境下的稳定性以及材料表面电势对磁性的影响。研究表明，BT层的表面电势高于MBT层，通过SKPM图可分辨MnBi2Te4中解理面类型。MnBi6Te10和MnBi8Te13中不同的BT层表面电势相等，其类型可结合SKPM像和AFM像进行分辨。此外，研究发现此体系材料在大气环境中长时间放置会导致BT层与MBT层的表面电势升高，同时BT层与MBT层间电势差减小。SKPM作为一种分辨解理面类型的手段为深入研究此体系薄层材料的磁性拓扑性质提供了帮助，也为研究其他范德华异质结构的表面电学性质提供了新方法和思路。