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一种磁性本征拓扑绝缘体MnBi2Te4薄膜的制备方法

摘要

本发明提供了一种磁性本征拓扑绝缘体MnBi2Te4薄膜的制备方法,属于发光材料制备及应用技术领域,包括如下步骤:S1.清洁并干燥基片后,将其置于磁控溅射镀膜仪的真空腔内;S2.室温下,利用磁控多靶共溅射法,将Mn源、Bi源和Te源共溅射在所述基片上制备非晶态的薄膜;S3.共溅射结束后,原位溅射生长一层Al膜作为保护层;S4.将所述非晶态的薄膜移入真空退火炉中,退火保温一段时间后制得。本发明的磁性本征拓扑绝缘体MnBi2Te4薄膜的制备方法,仅需在目标温度下进行一轮退火便可得到,工艺简单,可操作性更强;能够最大限度地节约时间成本,使效率最大化,适用于大批量生产;无需进行任何人工转移操作可避免污染、损坏;降低了设备成本,有利于工业化生产。

著录项

  • 公开/公告号CN113416935B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022.09.20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 季华实验室;

    申请/专利号CN202110642910.X

  • 申请日2021.06.09

  • 分类号C23C14/35;C23C14/06;C23C14/14;C23C14/58;H01F41/18;H01F41/22;

  • 代理机构深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人曹卫良

  • 地址 528200 广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号

  • 入库时间 2022-09-26 23:21:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-20

    授权

    发明专利权授予

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