32例智力低下儿的微核检查分析

摘要

目的:分析智力低下的病因与染色体畸变和细胞微核率变化的关系。方法:应用常规外周血淋巴细胞染色体G显带技术进行染色体核型分析和细胞微核率检测。结果:32例受检者中,检出异常核型13例,检出率为40.63%。实验组微核发生率为11.91%,对照组微核发生率为3.42%,两组微核发生率比较有统计学差异(P<0.01)。结论:染色体异常及微核形成是导致智力低下的重要遗传学原因,微核形成与环境因素有关。