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余永涛; 王之哲; 郭长荣; 刘焱; 罗宏伟; 王小强; 罗军; 陈勇国;
工业和信息化部电子第五研究所;
广州510610;
华南理工大学;
广州510641;
光电耦合器件; 低频噪声检测; 功率老化; 高温老化; 可靠性;
机译:基于低频噪声测量的光电耦合器件可靠性估计的新方法
机译:1 / f,g-r和突发噪声用作光电耦合器件可靠性评估的筛选阈值
机译:利用低频噪声测量研究微机械加工的AlGaN / GaN / Si高电子迁移率晶体管的器件可靠性
机译:光电耦合器件低频噪声的统计特性
机译:氮化铝镓/氮化镓MODFET的电气特性:基于可靠性的低频噪声研究。
机译:基于电子倍增电荷耦合器件(EMCCD)的锥形束微CT系统的噪声和对比度灵敏度的研究
机译:用于可靠性筛选的光电耦合器件的噪声测量:是否存在最佳阈值?
机译:宽间隙半导体,siC和GaN的低频噪声特性研究,以及siC基功率器件,二极管和晶闸管的主要特性
机译:制造晶体管,光电器件和电子仪器以改善晶体管的电气特性和可靠性的方法
机译:用于根据低频噪声等级预测电子工程产品的可靠性的装置
机译:用于根据低频噪声水平预测电子技术产品的可靠性的装置
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