CoSiB/FeNbCuSiB和FeNbSiB/FeSiB双层薄带的表面和块体磁各向异性

摘要

O.Zivotsky等人采用现代平面流动制造工艺,制造了这些双层薄带,并借助X-射线衍射测定,证明全是非晶态,带厚均为36μm,中间层厚为若干μm。薄带的弯曲导至块体表面各向异性,磁光kerr效应和振动样品磁强计测量也证明如此。