不同电解液体系中高纯镁表面微弧氧化膜的组织与性能

摘要

在硅酸盐、铝酸盐、硅酸盐与铝酸盐复合3种电解液体系中对纯镁表面进行微弧氧化处理,通过扫描电镜观察、能谱分析、X射线衍射分析和电化学测试等方法研究了微弧氧化膜的组织及性能.结果 表明:硅酸盐体系中得到的微弧氧化膜最厚,其厚度为34.54μm,组织相对致密均匀,主要由MgO和Mg2SiO4构成;复合体系中得到的微弧氧化膜的表面粗糙度最小,为0.19 μm,组织致密均匀,主要由MgO、Mg2SiO4和MgAl2O4构成;铝酸盐体系中得到的微弧氧化膜组织的致密性最差,主要由MgO和MgAl2O4构成;硅酸盐体系中得到的微弧氧化膜耐蚀性最好,其自腐蚀电流密度比基体的小一个数量级.