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ICP-MS测定超高纯钽铌及其化合物中痕量杂质元素

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摘要

以HF-HNO3微波消解试样,直接用ICP-MS测定高纯钽铌化合物中19个杂质元素,选择了仪器的工作参数,考查了质谱干扰及基体干扰的情况,选择内标元素Ga、In校正,克服了基体效应.检出限为0.005-0.2μg/g,回收率为87%-110%,方法快速准确,灵敏度高.

著录项

来源
《光谱实验室》|2004年第3期|551-555|共5页
作者
田孔泉; 郝红梅; 张卫杰; 李亚琴; 伏军胜; 杨丽明;
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作者单位

宁夏东方钽业股份有限公司分析检测中心,宁夏,石嘴山市,753000;

宁夏东方钽业股份有限公司分析检测中心,宁夏,石嘴山市,753000;

宁夏东方钽业股份有限公司分析检测中心,宁夏,石嘴山市,753000;

宁夏东方钽业股份有限公司分析检测中心,宁夏,石嘴山市,753000;

宁夏东方钽业股份有限公司分析检测中心,宁夏,石嘴山市,753000;

宁夏东方钽业股份有限公司分析检测中心,宁夏,石嘴山市,753000;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类质谱分析;
关键词
电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS); 高纯钽铌及其氧化物; 杂质元素;
入库时间 2022-08-17 16:44:49

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