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去卷积和高斯拟合方法在FTIR光谱处理中的应用

         
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摘要

讨论了FTIR光谱产生的机理,并分析了影响其光谱质量的两种原因:(1)干涉图的截断;(2)仪器采样率低.为了改善由上述两种原因引起光谱畸变,我们对其进行了仪器线型函数去卷积和高斯拟合,使其更接近实际光谱,从而使由其计算出的物理量更接近实际值,结果更精确.

著录项

  • 来源
    《光谱实验室》 |2007年第3期|486-489|共4页
  • 作者

    刘志明; 高闽光; 徐亮; 张天舒;

  • 作者单位

    中国科学院环境光学与技术重点实验室,中国科学院安徽光学精密机械研究所环境光学中心,合肥市科学路1125信箱,230031;

    中国科学院环境光学与技术重点实验室,中国科学院安徽光学精密机械研究所环境光学中心,合肥市科学路1125信箱,230031;

    中国科学院环境光学与技术重点实验室,中国科学院安徽光学精密机械研究所环境光学中心,合肥市科学路1125信箱,230031;

    中国科学院环境光学与技术重点实验室,中国科学院安徽光学精密机械研究所环境光学中心,合肥市科学路1125信箱,230031;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 红外光谱分析法;
  • 关键词

    傅里叶变换红外光谱(FTIR); 卷积; 去卷积; 高斯拟合;

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