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MEMS周期运动测试中频闪成像与运动激励的同步控制

     

摘要

微结构运动测试技术已成为MEMS测试技术的重要组成部分.由于MEMS器件中微结构的运动频率较高,频闪成像法得到了广泛的应用.本文针对静电型MEMS周期运动测试的要求,设计并研制了一种基于FPGA的频闪成像和运动激励同步控制系统,用于MEMS器件的周期运动激励和微结构高速周期运动过程中清晰图像的获取.实验表明,频闪照明的最小脉冲宽度为10 ns,运动相位的调整间隔小于3.75°,能够满足周期运动频率为1 MHz微结构运动测试的要求.

著录项

  • 来源
    《传感技术学报》|2008年第7期|1174-1177|共4页
  • 作者单位

    天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津,300072;

    天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津,300072;

    天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津,300072;

    天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津,300072;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TH133.21;
  • 关键词

    MEMS测试; 频闪成像; 运动激励; 同步控制;

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