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电子束蒸发a-Si_(1-x)Nd_x薄膜的ESR研究

     

摘要

研究了电子束蒸发a-Si_(1-x)Nd_x的薄膜的ESR参数g因子、线型因子l,峰—峰线宽△Bpp、自旋密度Ns随组分x变化的特性.基于这类薄膜的光吸收和电导特性,应用带Nd背键的悬挂键模型分析讨论了这些变化特性的物理原因.

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