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殷勤; 戚韬; 吴光林; 吴建辉;
东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心,南京,210096;
模数转换器; 逐次逼近; 时间交叉存取; 自校准比较器; 电容校准;
机译:适用于ECG检测系统的0.25upmu hbox {m} CMOS技术中的8位,10 KS / s,1.87upmu文本{W}逐次逼近模数转换器
机译:CMOS技术中用于ECG检测系统的8位,10 KS / s逐次逼近模数转换器
机译:2.67 fJ / c.-s。 65 nm互补金属氧化物半导体中的27.8 kS / s 0.35 V 10位逐次逼近寄存器模数转换器
机译:具有基于Vcm的无线通信的10位40 MS / s逐次逼近寄存器模数转换器
机译:用于模数转换器设计的加速逐次逼近技术。
机译:用于单片有源像素传感器的新型列并行模数转换器闪存的设计
机译:模数转换器设计的加速逐次逼近技术
机译:电荷积分逐次逼近型模数转换器,用于使用单个放大器的焦平面应用
机译:用于多通道接收器的时分复用逐次逼近寄存器(SAR)模数转换器(ADC)电路
机译:逐次逼近寄存器模数转换器和逐次逼近寄存器模数转换器中的失调校准方法
机译:逐次逼近寄存器模数转换器和逐次逼近寄存器模数转换器中数模转换器失配校准的方法
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