一种实现数模混合电路中的DAC测试的BIST结构

摘要

由于超大规模集成电路技术的快速进步,测试数模混合电路变得越来越困难.针对DAC的测试问题,采用了一种内建自测试(BIST)的测试结构,用模拟加法器把电压测量转换成时间测量的方法,分析并给出了如何利用该结构计算DAC的静态参数.利用该方法,既可以快速得到DAC的静态参数,又提高了测试精度,使得测试电路简单、紧凑和有效.