定点DSP芯片的一种BIST结构设计与实现

张松; 魏敬和; 董玲; 于宗光; 须文波; 薛忠杰

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在内建自测试的基本原理上实现了一种有效地适用于16位定点DSP的BIST设计方案,包括内部逻辑的BIST设计和Memory的BIST设计;通过与IEEE 1149.1兼容的边界扫描技术来对BIST实现控制,并提供电路板级的测试.测试结果证明,该设计的故障覆盖率达到了98%以上,确保了DSP芯片的品质.

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来源
《服装学报》 |2006年第5期|505-508|共4页
作者
张松; 魏敬和; 董玲; 于宗光; 须文波; 薛忠杰;
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作者单位

江南大学通信与控制工程学院;

中国电子科技集团公司第58研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类数字集成电路、逻辑集成电路;逻辑电路;
关键词
数字信号处理芯片; 内建自测试; 可测性设计; 故障覆盖;

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