锁相环中克服非理想因素的鉴相器和电荷泵设计

程知群; 朱雪芳; 周云芳; 高俊君; 徐胜军

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锁相环中克服非理想因素的鉴相器和电荷泵设计

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讨论了锁相环中鉴相器和电荷泵中非理想因素及其克服方法.电路设计采用SMIC 0.18 μm CMOS工艺和Cadence Spectre仿真器.通过在重置反馈路径上加入延迟单元的方法来消除鉴相器的死区.比较了两种传统电荷泵电路的设计方法,通过加入Replica Bias电路和单位增益运放,实现了上下电流的高匹配性.

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来源
《电子器件》 |2010年第4期|442-446|共5页
作者
程知群; 朱雪芳; 周云芳; 高俊君; 徐胜军;
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作者单位

杭州电子科技大学射频电路与系统教育部重点实验室,杭州,310018;

杭州电子科技大学射频电路与系统教育部重点实验室,杭州,310018;

杭州电子科技大学射频电路与系统教育部重点实验室,杭州,310018;

杭州电子科技大学射频电路与系统教育部重点实验室,杭州,310018;

杭州电子科技大学射频电路与系统教育部重点实验室,杭州,310018;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类微电子学、集成电路（IC）;
关键词
鉴相器; 鉴相死区; 电荷泵; 高电流匹配;

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