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单链扫描可测性设计中存储元件的排序

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本文提出了扫描设计中存储元件在扫描链中的最优排序方法.采用交迭测试体制和区间法能快速求出最优解.对于确定的测试向量集,用该方法构造的扫描链能使电路总的测试时间最少.

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来源
《计算机学报》 |1995年第8期|598-603|共6页
作者
叶波; 郑增钰;
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作者单位

复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室;

上海;

200433;

复旦大学电子工程系;

上海;

200433;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论;
关键词
扫描设计; 存储元件; 扫描链; 交迭测试; 区间法;

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