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王俊平; 郝跃;
西安电子科技大学通信工程学院,西安,710071;
西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071;
IC彩色缺陷图像; 边界提取; 尺寸测量; 形状分析; 形态学算子;
机译:与REEB并联形状运算符的复杂双曲Quadric中的真实超缺陷
机译:Prickle1突变会导致与心脏流出道异常和其他结构性出生缺陷相关的平面细胞极性和定向细胞迁移缺陷Prickle1突变会导致与心脏流出道异常和其他结构性出生缺陷相关的平面细胞极性和定向细胞迁移缺陷Prickle1突变会导致平面细胞极性与心脏流出道异常和其他结构性出生缺陷相关的定向细胞迁移缺陷
机译:机器视觉识别黄花梨形状,尺寸和表面缺陷的新方法-第二部分:形状,尺寸和表面缺陷的检测
机译:镍钛形状记忆合金中转化诱导缺陷的表征
机译:斑马鱼中不同尺寸和形状镍纳米粒子的毒性和发育缺陷
机译:凝视物理物理缺陷和几何形状的缺陷和几何形状物理学中的缺陷和几何形状,David R. Nelson Cambridge U.新闻,纽约,2002年。$ 110.00,$ 40纸(377 pp。)。 ISBN 0-521-80159-1 ISBN 0-521-00400-4(纸)
机译:开发包括10CFR 50.61a草案(替代性pTs规则)的缺陷深度尺寸误差影响的缺陷尺寸分布表。 JCN-N6398,任务4。
机译:形状缺陷原因分析方法,形状缺陷校正方法,形状缺陷发生原因分析仪,用于分析形状缺陷发生原因的程序和记录介质
机译:表面形状缺陷产生区域估计方法表面形状缺陷源区域估计方法表面形状缺陷产生区域估计装置表面形状缺陷源区域估计装置程序和记录介质
机译:估计表面形状缺陷产生区域的方法,估计表面形状缺陷源区域的方法,表面形状缺陷产生区域的估计装置,形状缺陷源区域估计装置,程序和记录介质
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