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李兆麟; 盛世敏; 吉利久; 王阳元;
清华大学计算机科学与技术系高性能研究所,北京,100084;
北京大学微电子学研究所,北京,100871;
树型加法器; 单元故障模型; 测试向量生成; 内建自测试;
机译:基于高性能CNTFET的全加法器单元的设计,适用于:携带纹波,进位选择和进位跳过加法器
机译:每单元2位MLDRAM的故障模型和测试
机译:基于FinFET的1位全加法器单元在10,22和32 nm下实现的基于FinFET的1位全加法器单元
机译:用于基于单元的技术的冗余加法器体系结构。
机译:级联故障模型中基于系统崩溃预警的网络恢复
机译:基于Shannon的全加法器设计控制加法器/减法器单元的设计
机译:基于电压加法器的射线照相综合测试台(RITs)的设计,驱动沉浸在高磁场中的二极管
机译:基于宿单元故障模型的电路缺陷诊断
机译:树型加法器和乘法器
机译:树型清单生成设备,树型清单分析设备,树型清单生成系统,树型清单生成方法,树型清单分析方法和程序
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