机译:每单元2位MLDRAM的故障模型和测试
机译:测试两端口内存中的地址解码器故障:故障模型,测试,端口限制的后果和测试策略
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机译:两个低角度法向断层附近的古应力方向:测试弱断层和断层破坏的力学模型
机译:一种基于故障与测试之间使能关系的扩展可测试性建模方法
机译:故障模型和随机存取存储器中耦合故障的测试。
机译:考虑故障排除效率和错误产生的测试覆盖软件可靠性模型
机译:每单元2比特mLDRam的故障模型和测试