7.0 T高场磁共振磁敏感倍增成像效应研究

摘要

磁敏感性可以看作是物质的一种固有属性,不同的组织由于成分与结构的差异,磁敏感性往往各不相同,有效地利用磁化率的差异可为组织结构与功能提供额外的信息.基于这种新的成像对比机制,磁敏感加权成像技术(SWI)诞生.研究发现,在一定的条件下,由于磁敏感性差异的存在,特定组织在MR成像过程中会出现"成像倍增",这种现象被称为磁敏感倍增成像效应.作为SWI技术的研究基础,全面准确地评估磁敏感倍增成像效应对SWI技术在临床上的进一步应用有重要意义.开展磁敏感倍增成像效应的相关研究,结合计算机模拟与体外实验,以像素数量及倍增因子为评估指标,建立磁化率、回波时间及物理大小与磁敏感倍增成像效应之间的量化关系.计算机模拟实验结果显示,磁化率、回波时间与磁敏感倍增成像效应呈正相关,在实验范围内,幅值与相位得到的倍增因子最高可达37,而在半径为0.5 voxel的圆柱模型中,SWI数据得到的倍增因子最高可达51;体外实验结果显示,0.3和0.46mm为直径的圆柱模型的倍增因子最高分别为13.25以及10.75,模型半径越小,磁敏感倍增成像效应越明显.研究结果对于SWI成像技术的发展以及疾病的早期发现有重要的参考价值.