X—射线荧光光谱背景和基体效益综合校正公式

摘要

本文根据散射内标和公共背景法的有关理论,导出了两个X-射线荧光光谱分析校正方程,将背景、基体吸收和重叠干扰校正,以及校正曲线定量分析等多种运算合并进行,因而应用起来十分简便,两个方程在数学形式上与目前使用的X-射线光谱仪计算机程序中通用的数学模型相似,便于推广应用。