爱德万测试发布最新高速存储器测试系统T5511

摘要

近日，爱德万测试发布了下一代高速DRAM测试系统T5511。T5511是爱德万测试的最新产品，是迄今为止业界最高测试速度（8Gbps）的存储器测试系统，可支持高速的GDDR5一SDRAM芯片测试，并具有扩展功能。因为T5511所有的测试管脚都可支持8Gbps的速度，所以在高速运行的时候，可以保证最大同测效率而不受任何影响。