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芯片测试

芯片测试的相关文献在1996年到2023年内共计2523篇,主要集中在无线电电子学、电信技术、自动化技术、计算机技术、工业经济 等领域,其中期刊论文148篇、会议论文45篇、专利文献494309篇;相关期刊82种,包括电子测试、电子与封装、电子工业专用设备等; 相关会议32种,包括第十七届全国核电子学与核探测技术学术年会暨核电子学与核探测技术分会第八次全国会员代表大会、第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛、第七届中国测试学术会议等;芯片测试的相关文献由3694位作者贡献,包括不公告发明人、袁俊、黄建军等。

芯片测试—发文量

期刊论文>

论文:148 占比:0.03%

会议论文>

论文:45 占比:0.01%

专利文献>

论文:494309 占比:99.96%

总计:494502篇

芯片测试—发文趋势图

芯片测试

-研究学者

  • 不公告发明人
  • 袁俊
  • 黄建军
  • 胡海洋
  • 辜诗涛
  • 张亦锋
  • 王海昌
  • 陈东
  • 王锐
  • 卢旭坤
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利文献

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