有效的SRAM单元失效概率分析

摘要

由于集成电路的特征尺寸持续缩小,在先进技术节点的制造过程中引入的变异,需要进行很好的评估,以涵盖在电路设计期间的预期设计规范.传统的蒙特卡洛分析方法对高西格玛设计有一定的局限性.在本文中,我们采用了与传统的蒙特卡洛分析相比更有效的方法,那就是利用重要性抽样技术实现超过100000倍的加速.此外,可以利用分区的随机仿真矢量,然后使用计算农场的并行处理得到额外的加速.