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张利敏; 陈雷; 高迥; 韩小明;
中国电子科技集团公司第五十五研究所;
南京211111;
盐雾试验; 关键参数; 结果一致性;
机译:先进半导体器件技术的趋势-片上Si系统和分立半导体器件集成的先进技术
机译:盐雾老化试验中盐雾条件对聚合物绝缘子外壳材料劣化的影响
机译:功率半导体器件关键参数的统计相关性和转换装置的模式
机译:盐雾试验方法漏电流漏电流的电场和盐雾电导率
机译:用于确定半导体器件中陷阱参数的深层瞬态光谱法(DLTS)
机译:对盐雾耐腐蚀筛选灌木的不同参数的评价
机译:盐雾条件对盐雾老化试验中聚合物绝缘子壳体劣化的影响
机译:分立半导体规范的评估。第三卷。半导体器件 - 测试 - 类别矩阵。
机译:产生盐雾的装置,该盐雾用于在盐试验箱中测试汽车原型的耐腐蚀性,该装置包括加压空气进料管线,吸气管线,雾化喷嘴和润湿单元
机译:固定半导体分立部件的方法和半导体分立器件
机译:虚拟半导体器件制造环境中关键参数识别,过程模型校准和可变性分析的系统和方法
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