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半导体分立器件参数的脉冲测试

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本文介绍了半导体分立器件参数脉冲测试的必要性，有关标准对脉冲测试的要求及实现的方法．

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来源
《电讯工程》 |2005年第4期|33-36|共4页
作者
甘小军;
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作者单位

无;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类场效应器件;
关键词
半导体分立器件; 脉冲测试; 软件闭环; 硬件闭环;

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