一种半导体分立器件静态直流参数测试设备

摘要

本发明涉及半导体的技术领域，且公开了一种半导体分立器件静态直流参数测试设备，包括机座，所述机座的外部固定连接有检测空气含尘量的汇集壳，所述汇集壳的外部固定连接有用于空气含尘量检测的时间计量的L架。通过漏筒内部塑料球不间断穿过分隔板触发开关来实现空气尘土含量检测处理的时间控制，吸力板滑动汇集壳内部产生空气负压，负压经过单向管传递到处理箱内部，外部空气在负压作用下吸入处理箱内部，空气穿过滤板内部空气尘土被过滤，在漏筒控制相同时间范围内部通过计量滤板质量变化，从而得出空气尘土含量，从而实现半导体分立器件静态直流参数测试设备进行测试快速空气尘土含量检测。