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熔融制样-X射线荧光光谱法测定冰晶石中杂质含量

         

摘要

对X射线荧光光谱法测定冰晶石中杂质元素的方法进行了研究。利用系列标准样品制作工作曲线,采用混合熔剂熔融制样法分析了Na2O、SiO 2、Fe2O3、F、AL、SO42-制备熔片的稀释比例为1.5:10。本文中方法的确定,满足了开发仪器功能的需要,同时也提供了另外一种测定冰晶石杂质含量的方法,以便用不同的方法对试样结果进行有效的验证。

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