降膜波动特性的研究

摘要

本文提出了一种测定膜厚的新方法－双电导探针法，测定了高湍流降膜的厚度沿降膜管管程的变化情况，探讨了径向平均膜厚及膜厚的概率密度分布沿管程的变化规律，证明降膜的波动特性同时受到液相雷诺数和管程的影响。并对平均膜厚和液相雷诺数作了经验关联，得出NT＝（δ+)2/3+[8.92(ReL/4)5/2+6.0×10-6(ReL/4)9/2]2/15。