某型DSP芯片指标测试设计与实现

摘要

该文针对一款兼容SMJ320C6701?鄄SP的DSP芯片进行各项指标测试系统的设计,使用LabVIEW进行上位机的测试平台程序编写,实现了对DSP芯片指标的单次测试和连续测试,同时实现了实时显示数据曲线、自动存储数据等功能。采用CCStudio v3.3软件进行算法的编程,实现运算性能、读写时序特性等指标的测试。实际应用结果表明,该文设计的测试系统完全可以实现该类型DSP芯片性能指标的测试。测试数据中监测芯片温升测试误差小于1℃,且该测试系统具有很好的人机交互界面,简化了繁琐的测试操作和测试过程,提高了芯片的测试质量与测试效率。