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赵雯; 赵凯; 陈伟; 沈鸣杰; 王坦; 郭晓强; 贺朝会;
西安交通大学核科学与技术学院;
强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室;
上海复旦微电子集团股份有限公司;
单粒子效应; 重离子; 全耗尽绝缘体上硅; 静态随机存储器;
机译:用重离子和脉冲激光辐照进行单事件效应测试的新方法:CMOS / SOI SRAM基板去除
机译:重离子辐照增强模式GaN功率HEMT中单事件效应的实验研究
机译:Bi-CMOS技术DC / DC转换器中重离子和质子诱导的单事件效应的实验研究
机译:SOI 6T-SRAM中重离子产生的单事件瞬态电流的高温效应紧凑
机译:在流动磁化等离子体实验中径向欧姆定律的非理想效应的实验研究,以及重离子束探针技术在螺旋等离子体上的应用。
机译:使用热线等离子体焊接工艺对钛件焊接工艺的实验研究
机译:错误:基于闪存的FPGA中重离子单事件效应的实验研究
机译:多种有限状态机缓解策略的重离子单粒子效应分析。
机译:离子源,重粒子束照射装置,离子源的驱动方法以及重粒子束照射方法。
机译:离子源,重粒子束照射装置,离子源驱动方法和重粒子束照射方法
机译:离子源。重粒子束方向-辐射,离子源驱动方法和重粒子射线-辐射程序
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