基于SOPC图像处理的二维微小位移测量

摘要

物体微小位移的测量中方法甚多,但非接触及多维测量则具有更好前景.以图像处理为基础的测量技术具有广阔应用的空间,但图像处理中数据量较大,实时性是一较难解决的问题.以SOPC技术及图像处理技术为基础,对物体亚微米级的二维平移进行测量,在保证测量过程的非接触、实时、小体积、精度高的要求前提下,较好解决了实时测量这一问题.