微小位移

摘要： 传统迈克尔逊干涉条纹人工计数,测量方法稳定性差,人为误差较大。现提出一种基于CCD进行干涉条纹采集,利用Matlab中Waved Ruler(波尺)对干涉条纹进行图像处理。根据干涉条纹明暗周期性变化,通过对干涉条纹去背景噪声、二值化阈值滤波、去小噪声、条纹优选等步骤,对干涉条纹处理并计数,从而测得物体微小位移。实验结果表明,该方法优化了迈克尔逊干涉法测物体微小位移,测量最小误差达到0.4%,减小测量过程中的误差,提高测量稳定性。

摘要： 文章依据结构力学课程中几何组成分析的基本概念和方法,同时采用假想微小位移的方法,从几何瞬变体系和几何常变体系的概念出发,分析了几何瞬变体系的微小位移和几何常变体系的有限位移的本质区别,同时分析了多位移模态体系中几何稳定性的必要条件,提出了几何瞬变体系优先于几何常变体系的结论,并论证了其合理性,对结构力学的教学和理解具有重要意义。

摘要： 文章依据结构力学课程中几何组成分析的基本概念和方法,同时采用假想微小位移的方法,从几何瞬变体系和几何常变体系的概念出发,分析了几何瞬变体系的微小位移和几何常变体系的有限位移的本质区别,同时分析了多位移模态体系中几何稳定性的必要条件,提出了几何瞬变体系优先于几何常变体系的结论,并论证了其合理性,对结构力学的教学和理解具有重要意义.

摘要： 在干涉法测量微小位移实验中,通常数条纹的读数方式使得位移分辨率不可能小于波长的一半,本文提出了通过测量干涉相位达到连续测量位移的方法.首先测量方向相互垂直的线偏振光(p光和s光)通过干涉仪后的光强,然后利用仿射变换将测量结果映射到单位圆上.映射点的辐角与干涉相差只相差一个常量.通过记录辐角的变化可以对位移进行连续测量.通过干涉仪的冲击响应测量与金属线胀系数测量验证了此方法.

摘要： 本文提出了一种利用双光栅夹角变化测量金属丝杨氏模量的方法.该方法利用莫尔条纹宽度对双光栅夹角变化的高度敏感性,将动光栅放置在杠杆平台上,将不同拉力下金属丝的微小线位移转化为由双光栅夹角变化而引起的莫尔条纹宽度的变化,进而计算得到金属丝的杨氏模量.实验表明,该方法操作简单,数据准确,精确度高,实验结果符合预期.

摘要： 利用反射式光纤位移传感器在输出电流为20 mA的条件下,选用线性度较好的1.10～1.65mm位移区曲线为定标曲线,测量钢丝在加载情况下的微小伸长量,计算钢丝的杨氏模量.与光杠杆法相比较,测量误差小,准确度高.

摘要： 在CCD图像传感器测量微小位移实验中,由于实验仪器的设计缺陷,使仪器不能准确的测量入射光与反射光之间的夹角,为实验带来了一定误差,且此误差与位移、透镜中轴线与入射光线夹角有关.该文通过数学推导以及实验验证,研究了误差与位移、夹角之间的关系以及此误差对实验结果的影响程度.并利用MATLAB软件绘制了在夹角10°-90°,位移较小的情况下,误差与夹角、位移的三维图型,给出几个常用角度下因光屏与激光器之间距离的变化而导致的误差.

摘要： 利用劳埃镜干涉测量了压电陶瓷的横向压电系数d31,将平面反射镜安装在压电陶瓷的一端,当压电陶瓷在外加横向电场的作用下产生微米量级的纵向形变时,劳埃镜干涉条纹间距将发生相应的变化,从而放大了压电陶瓷的微小形变.通过相机采集干涉条纹的位置与条纹间距的相关信息,并运用M atlab程序对其进行分析,得到压电陶瓷在不同驱动电压下对应的形变量,计算出该材料的压电系数.

摘要： 四象限探测器具有较高的位移测量精度和较短的时间响应.从理论上对四象限探测器作了简要分析,并从实验上对于四象限探测器在测量微小位移的应用上进行了较深入的探究,在大学物理实验教学中获得了较好的效果.

摘要： 本文将介绍一种利用衰减全反射（ATR）技术来实时测量微小位移的方法。用一块镀有较厚金膜的平板玻璃作为样品；将它和一块镀有较薄金膜的棱镜放在一起顶紧。由于两层金膜之间存在一层很薄的空气层，它们构成了一个棱镜耦合金属包覆介质波导系统。用一束聚焦的激光束入射到棱镜耦合金属包覆介质波导上，在反射光斑中将出现衰减全反射峰的吸收暗线。当样品产生位移时，反射光斑中的衰减全反射峰也将移动。通过CCD 摄像机观测反射光斑中的衰减全反射峰的移动，来测量样品的微小位移。

摘要： 本文以劈尖测量微小长度的原理为依据,分析了一种已有的测微小位移的方法及其不足之处,提出了一种新的用劈尖测微小位移的方法,并对这种方法做了分析。

摘要： 本文研究多视点裸眼立体显示视区变换,提出一种微移即可实现视点切换的狭缝光栅立体显示器.该显示器是利用压缩视点间距的方法,实现只需人眼微小的空间位移就可获得立体图像的更换.分析光栅的分光机理,提出视点间距压缩后立体显示器各个参数之间的约束条件,采用TracePro光学软件进行仿真论证,结果表明,通过压缩视点间距,在没有引入新串扰度分量的前提下,实现了微小位移即可切换立体显示视区(G),有效提高立体显示视区的连续性.

摘要： 激光照射到粗糙物体的表面上在空间中随机相干叠加形成散斑。激光散斑随物体在自身平面内作同步运动,这一现象可用来测量物体的微小位移。本文利用氦氖激光器作为光源,结合CCD成像技术辅助采集散斑图像,采用计算机程序处理图像,验证散斑位移理论,并指出CCD成像辅助的激光散斑教学中应注意的问题。

摘要： 本发明提供了一种采用颗粒微小位移测量装置测量细微颗粒产生位移的方法，激光器发射出的激光通过中间有小孔的第一反射镜，再透过斜槽表面聚焦在颗粒物质上，被激光束照射的样品颗粒产生的散射光入射分束器后，一分为二产生两束激光，一束光被光学分束器反射后入射到上方的第二反射镜后反射回分束器，之后透射过分束器由透镜聚焦被CCD相机接收；另一束光透射过分束器后入射到右侧的第三反射镜，之后反射回分束器后再次被反射，经过透镜聚焦到CCD相机上。CCD相机通过图像卡记录产生的激光散斑图，并传送到计算机进行相关数值计算处理。本发明解决了原有测量装置和方法无法测量颗粒位移的问题；可测量直径在1mm‑1.5mm之间的细微颗粒运动产生的位移。

摘要： 本发明公开了一种微结构阵列光学位移传感器的制造方法及其用于检测微小位移的方法，所述方法包括：首先在基底材料表面进行镀膜，利用微纳米加工方法在基底材料上制备具有光谱特征峰的微结构阵列；将具有微结构阵列的基底固定于被测样品表面并利用光谱仪对样品表面的微结构进行光谱测量；移动位移传感器，记录光谱特征峰移动位置并计算位移量。所述方法制造的微结构阵列光学位移传感器可以测量微小区域内位移变化量，且具有测量灵敏度高、检测速度快的优势。

摘要： 本发明属于微波天线领域，具体为一种基于阵列化微小位移控制的反射面天线，用以解决现有反射面天线笨重及不灵活等问题。本发明反射面天线由反射面1与馈源2构成，其中，反射面由若干个呈阵列排布的阵列单元构成，所述阵列单元由金属单元与微型步进电机构成；每个阵列单元通过精密微型步进电机的微小运动调整辐射和接收波的相位，控制波束的形状，实现增益和波束宽度的调节以及单波束和多波束扫描；且步进电机的步进在μm量级，故本发明阵列所能提供的相位步进远小于数字移相器；由于波的相位具有周期性，因此阵列单元之间的相对位移在一个波长以内，从而保证了本发明天线具有低剖面。

摘要： 本发明公开一种三维微小位移测量方法及系统，涉及微小位移测量技术领域，方法包括：获取待测位移物体的模型；在待测位移物体的模型上设置有三个容栅传感器组；模型包括第一子模型和第二子模型，第一子模型设置在第二子模型的内部；容栅传感器组的动栅设置在第一子模型的外侧壁上且静栅设置在第二子模型的内侧壁上或者容栅传感器组的动栅设置在第二子模型的内侧壁上且静栅设置在第一子模型的外侧壁上；每个容栅传感器组的动栅和静栅形成通道，每个通道用于检测动栅的极距变化和面积变化；面积变化为动栅和静栅的相对面积变化；分别获取三个容栅传感器组的电压值；根据容栅传感器组的电压值确定位移。本发明能够实现对三维空间微小位移的测量。

摘要： 本发明提供了一种颗粒微小位移测量装置及测量细微颗粒产生位移的方法，激光器发射出的激光通过中间有小孔的第一反射镜，再透过斜槽表面聚焦在颗粒物质上，被激光束照射的样品颗粒产生的散射光入射分束器后，一分为二产生两束激光，一束光被光学分束器反射后入射到上方的第二反射镜后反射回分束器，之后透射过分束器由透镜聚焦被CCD相机接收；另一束光透射过分束器后入射到右侧的第三反射镜，之后反射回分束器后再次被反射，经过透镜聚焦到CCD相机上。CCD相机通过图像卡记录产生的激光散斑图，并传送到计算机进行相关数值计算处理。本发明解决了原有测量装置和方法无法测量颗粒位移的问题；可测量直径在1mm‑1.5mm之间的细微颗粒运动产生的位移。

摘要： 本发明公开了一种微结构阵列光学位移传感器的制造方法及其用于检测微小位移的方法，所述方法包括：首先在基底材料表面进行镀膜，利用微纳米加工方法在基底材料上制备具有光谱特征峰的微结构阵列；将具有微结构阵列的基底固定于被测样品表面并利用光谱仪对样品表面的微结构进行光谱测量；移动位移传感器，记录光谱特征峰移动位置并计算位移量。所述方法制造的微结构阵列光学位移传感器可以测量微小区域内位移变化量，且具有测量灵敏度高、检测速度快的优势。

摘要： 适宜于微小位移检测的分装差动式位移传感器。它涉及传感器领域，它解决了现有传感器无法克服对测试环境要求高的缺点。它的测试头中的两个测试头的中心线连线与导磁被测体的位移方向一致；测试头均由铁心、结构相同激磁线圈和结构相同信号线圈组成；铁心均为开有一对对称的柱形齿的“∏”字形铁心，并铁心中心线与导磁被测体表面垂直；激磁线圈和信号线圈依次从内向外缠绕在铁心的一个柱形齿上；每个测试头上的两个激磁线圈反向串联构成该测试头的激磁线圈，并将所有的激磁线圈正向串联构成激磁线圈相；每个测试头上的两个信号线圈反向串联构成该测试头的信号线圈，并将所有的信号线圈反向串联构成信号线圈相。应用在非导磁金属隔离的场合。

摘要： 本发明公开了一种基于阴影法的微小位移测量装置及方法，包括测量系统和电控位移台，测量系统包括粘弹性胶体、工作台、平行光源、图像传感器，待测位移施加在工作台上，粘弹性胶体与圆柱支撑杆接触的表面发生凹陷，平行光源出射圆形光斑到工作台的其中任意一个圆柱支撑杆上，发生凹陷的粘弹性胶体的表面使平行光线发生折射并在粘弹性胶体的下方形成阴影，通过图像传感器采集阴影的图像，从而通过未施加待测位移之前所形成的阴影直径和施加待测位移之后所形成的阴影直径的变化获得待测位移；电控位移台用于对工作台施加标定位移，用以获得工作台的位移变化与变化的阴影直径之间的关系。本发明具有分辨力高且抗干扰性强的优点。

摘要： 本发明公开了一种测量液体射流表面微小位移的装置及测量方法，该装置包括：激光器、精密位移台、刀片、液体射流发生组件、标准狭缝、偏振减光器以及成像组件；激光器、精密位移台、刀片、液体射流发生组件、偏振减光器以及成像组件依次排布，且均固定于光学平台的顶部；刀片与标准狭缝位于同一平面，且标准狭缝固定于光学平台的顶部；刀片固定于精密位移台的移动端，且精密位移台带动刀片做三维移动；液体射流发生组件的底部形成液体射流，刀片与液体射流之间的狭缝等于标准狭缝的狭缝宽度。本装置的结构简单，调节方便，且可以提高液体射流边界位移测量的分辨率。

摘要： 本实用新型属于机械性能精密测量检测仪器技术领域，具体公开了一种可检测微小位移及微小力的装置，包括压尖、外框和连杆，所述外框的内部固定连接有内框，且内框的前端上方固定连接有柔性铰链。该可检测微小位移及微小力的装置，与现有的普通检测装置相比，为纳米压痕仪提供了一种纳米级测量加载单元，此单元结构紧凑，减少了中间环节，电容式力传感器直接连接压头，力值信息传递块，减少初始压尖与试样接触瞬间位移损失，进而提高了位移测量精度与力测量精度，提高了纳米级压痕测量原始数据精度，由于本机柔性铰链与外框为一体式结构，更增加了整机刚性，因此减少了安装间隙对柔度的影响，因此更进一步提高了测量精度。