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葛钊; 陈佳杰; 李豫东; 吾勤之;
上海航天技术研究院;
中国科学院新疆理化技术研究所;
上海航天基础技术研究所;
辐射效应; 参数测试方法; 光谱响应;
机译:ASTRO-H卫星上X射线CCD摄像机的P通道CCD质子辐射损伤实验
机译:MOS器件中的辐射损伤退火:通过二极管参数确定进行研究
机译:优化器件时钟方案,以最小化电荷耦合器件中的辐射损伤效应
机译:CCD光电参数的测试方法
机译:非线性显微镜中的自适应光学器件,通过开环控制和基于EMCCD的Shack-Hartmann波前传感器实现。
机译:在大学医院计算机化临床决策支持系统(CCDS)的43个常识参数中的实验室测试过度使用的评估和成本估算
机译:CCD辐射损伤对Gaia天体测量的影响:I。在存在辐射损伤时的图像位置估计
机译:Desenvolvimento de Um sistema de Caracterizacao de Ccds(开发CCD(电荷耦合器件)表征系统)
机译:用其他普通廉价的CCD器件制造高帧速CCD成像器件的方法
机译:具有用于缺陷CCDS的校正功能的电荷耦合器件(CCD)照相机及其校正方法
机译:用于调整具有残差网络的CNN参数的学习方法和学习设备以及用于元学习的测试方法和测试设备,以及使用该方法和测试设备的CNN参数的学习方法和学习设备。提供了用于残余学习的残余网络,以及使用该残余网络的测试方法和测试设备}
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