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郑齐文; 余学峰; 崔江维; 郭旗; 任迪远; 丛忠超;
静态随机存储器; 功能失效; 测试图形; 数据保存错误;
机译:总剂量硬度保证方法中包括辐射环境变异性
机译:在木星辐射环境下工作的双极电路的总剂量测试方法
机译:预测辐射和电磁辐射作用下大型集成电路功能失效的标准隶属函数的构造方法
机译:模拟空间电离辐射环境(总剂量)对微电路的影响
机译:总剂量辐射对CMOS 1M位动态随机存取存储器的影响。
机译:在非常高的总剂量辐射环境下加固电子设备
机译:在总剂量硬度保证方法中包括辐射环境变异性。
机译:估计检查对象例如X射线辐射剂量的方法人体涉及通过在腔室中累积X射线辐射的初始和连续剂量值来确定X射线辐射的总剂量
机译:确定总剂量和剂量率的光激发发光辐射剂量法,以及扩大辐照期间可测量吸收辐射剂量上限的方法
机译:确定总剂量和剂量率的光激发发光辐射剂量学方法和一种在辐照期间扩展可测量吸收辐射剂量上限的方法
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