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在硅(001)上预沉积β-SiC定向层后金刚石薄膜的定向生长

     

摘要

采用无毒、不易燃的六甲基二硅胺烷和氢气在硅(001)单晶上用施加负偏压处理和化学汽相沉积(CVD)方法预沉积定向的β-SiC.傅里叶红外光谱证实β-SiC层的存在.微俄歇谱表明在这种方式下,850℃下即生成密集的与硅的三个〈001〉方向平行的碳化硅单晶晶粒. 接着用甲烷代替六甲基二硅胺烷作为碳源,在其上继续施加负偏压处理和CVD生长.微俄歇谱表明小正方形渐渐变成大正方形,其成分也从含硅碳变成只含碳.微喇曼谱证实了这一变化过程中的相结构从立方碳化硅变成金刚石.这一生长过程中对应的定向关系为金刚石〈001 〉∥β-SiC〈001〉∥硅〈001〉.

著录项

  • 来源
    《物理学报》|2000年第3期|532-537|共6页
  • 作者单位

    上海交通大学金属基复合材料国家重点实验室,上海,200030;

    上海交通大学金属基复合材料国家重点实验室,上海,200030;

    上海交通大学金属基复合材料国家重点实验室,上海,200030;

    上海交通大学金属基复合材料国家重点实验室,上海,200030;

    平田精密器材(上海)有限公司,上海,200137;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 物理学;
  • 关键词

  • 入库时间 2024-01-27 14:11:45

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