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非掺杂ZnO薄膜中紫外与绿色发光中心

         

摘要

用直流反应溅射方法在硅衬底上淀积了ZnO薄膜,测量它们的光致发光(PL)光谱,观察到两个发光峰,峰值能量分别为3.18(紫外峰,UV)和2.38eV(绿峰).样品用不同温度分别在氧气、氮气和空气中热处理后,测量了PL光谱中绿峰和紫外峰强度随热处理温度和气氛的变化,同时比较了用FP-LMT方法计算的ZnO中几种本征缺陷的能级位置.根据实验和能级计算的结果,推测出ZnO薄膜中的紫外峰与ZnO带边激子跃迁有关,而绿色发光主要来源于导带底到氧错位缺陷(Ozn)能级的跃迁,而不是通常认为的氧空位(Vo)、锌填隙(Zni)或锌空位(Vzn)、氧填隙(Oi).

著录项

  • 来源
    《物理学报》 |2001年第11期|2208-2211|共4页
  • 作者单位

    中国科学技术大学结构分析开放实验室,合肥,230026;

    中国科学技术大学物理系,合肥,230026;

    中国科学技术大学结构分析开放实验室,合肥,230026;

    中国科学技术大学物理系,合肥,230026;

    中国科学技术大学结构分析开放实验室,合肥,230026;

    中国科学技术大学物理系,合肥,230026;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 物理学;
  • 关键词

    ZnO薄膜; 热处理; 光致发光光谱; 缺陷能级;

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