基于汉明纠错编码的AES硬件容错设计与实现

摘要

提出一种AES硬件容错设计可避免攻击者利用在AES设计环节中插入故障位实现攻击.在原有AES硬件设计中加入汉明码纠错电路,能自动纠正同一字节内的所有单比特故障,硬件仿真实验证明,故障发现率接近100%.针对不同AES设计结构和测试点配置对纠错电路的资源及速度进行了分析,实验结果表明我们提出的硬件容错设计有很强的可行性.