基于分布估计算法的组合电路测试生成

摘要

基于遗传算法生成的测试矢量集的故障覆盖率要低于确定性方法.本文分析指出造成这种现象的一个可能原因在于,组合电路测试生成过程中存在高阶、长距离模式,从而导致遗传算法容易陷入局部极值或早熟收敛.为此,本文首次提出使用分布估计算法生成测试矢量.该方法使用联合概率分布捕捉电路主输入之间的关联性,从而避免了高阶、长距离模式对算法的影响,缓解了算法早熟收敛问题.针对ISCAS-85国际标准组合电路集的实验结果表明,该方法能够获得较高的故障覆盖率.