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张明宇; 王琦; 于洋;
沈阳工业大学 信息科学与工程学院 辽宁 沈阳110870;
辽宁工业大学 辽宁 锦州121001;
半导体器件; 热应力; 故障预测; 长短时记忆;
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机译:宽带半导体功率器件中的故障机制。
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机译:静态和动态条件下半导体功率器件上总电离剂量效应的研究。静态和动态条件下电离辐射总剂量对半导体功率器件的影响研究
机译:半导体器件中量子输运的建模(超亚微米长半导体器件的物理和操作)。
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